温度与薄膜厚度测量监测器

 薄膜测量仪器 >> 薄膜在线监测控制仪器 >> 温度与薄膜厚度测量监测器 产品编号：841482816产品名称：温度与薄膜厚度测量监测器规　　格：产品备注：产品类别：薄膜测量仪器    产 品 说 明eon-lt™温度与薄膜厚度测量监测器是一个基于电脑的薄膜厚度监测器，远远优于优于传统的监测器，传统的监测器无法感知晶体的热变化。本监测器是把频率和温度测量相结合，在实时速率和薄膜厚度监测方面可获取从来没有的精度。 为什么要测量温度？因为加热过程导致晶体的频率变化，毫无疑问等于镀膜引起的频率变化，对大多数速率测量，在正常操作会存在10％的误差，最糟糕的情况，会产生100％的误差。如果你的测量总是出错，那就是我们为什么要用eon-lt™温度测量薄膜厚度监测器来测量。 特点：● 附加精密的温度测量● 与最新、直观的 eon™软件通信● 与相应的速率和厚度相伴的实时温度和频率的测绘图● 支持挡板的接通和断开● 通信：rs-232, usb, 和 wifi● 双通道扩展能力● 包括所有的连接电缆、软件和操作手册● 驱动晶体6mhz,1-200ω, 任何类型（石英、超级石英）● 两个k型热电偶输入，精确到+/-0.25°c● 两个高分辨传感头，输入精度达到0.001hz● 24v电源● 工业标准的rs232通信协议● 尺寸：4.5英寸 x 2.5英寸 x 1英寸● 两个用户可选的传输口● led状态指示