半导体博曼（bowman)膜厚测试仪可测量：单一镀层、二元合金层、三元合金层、双镀层，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费，应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 w(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅pin检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素，深圳市金东霖科技有限公司是美国博曼x射线镀层膜厚测试仪中国区一级专业资深代理商，集销售、保养、校正（调试）及维修等专业服务一体化 ，让客户满意是我们金东霖科技始终的目标！
bowman膜厚测试仪检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费. 典型的應用範圍如下：
单一镀层：zn， ni，cr，cu，ag，au，sn等。
二元合金层：例如fe上的snpb，znni和nip合金。
三元合金层：例如ni上的aucdcu合金。
双镀层：例如au/ni/cu，cr/ni/cu，au/ag/ni，sn/cu/brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如cr/nicu/plastic；fe。
.x射线激发能量50 w(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅pin检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素
（bowman）博曼膜厚测试仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意，为客户创造最大的价值是金东霖追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图,有需要的朋友请联系
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