x-ray镀层膜厚测试仪 在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业,x-射线荧光镀层厚度测量仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。
a：区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定最多4层及24种元素。
b ：精确度领先于世界，精确到0.025mil
c ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求,如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、cad文件等。
d ：统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、ucl(控制上限)、lcl(控制下限)、cpk图、直方图、x-bar/r图等多种数据分析模式。能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
e ：可测量任一测量点，最小可达0.025 x 0.051毫米
美国博曼膜厚测试仪的优点
> 采用国际上最先进的、稳定性最好的射线源，体积小，使用寿命长，易维护。
> 设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单，便于维护。
> 快速多点校正法技术保证了系统的长期精度。
> 快速、连续、非接触测量、实时显示高精度测量值。
> 操作站：提供中英文操作界面(win7)。使用最新的java 技术。
> 采用双放大技术和独特大电离室，提升测量范围及精度。
美国膜厚测试仪膜厚测试仪测量技术领先同行15年，在同测量领域独领风蚤，成为膜厚仪之王，精准的数据，高端先进的技术，严格的品质要求，可靠、可信、快速的服务，及一些专业意见与技术扶持，值得您的信赖。
