瑞典xcounter 双能探测器光子计数 直接转换 能量分辨
•xcounter 采用cdte作为直接转换x射线探测器的转换材料
•直接转换x射线探测器具有更好的空间分辨率
•可获得更小细节的清晰图像
•动态范围大，这对于获取整幅图像非常重要
•光子计数，具有更高的灵敏度，可在非常低的剂 量下工作
•采用双能曝光，具有区分材料的能力
双能
• xcounter具有能量分辨能力，可以分辨出不同的材料
• 一次x射线获取，可记录两种不同能量的x射线吸收剂 量
• 利用不同组织和骨骼的吸收剂 量的不同的特点，可以从图像
中把它们区分出来
• 使得xcounter在医 疗和工业领域独具特色
• 独特的卖点
独特的传感器
瑞典xcounter 双能探测器
产品描述 fx系列
xc-flite fx1、fx2、fx3是直接数字转换、双能采集、光子计数x射线探测器，用于数字x射线成像系统，基于新型强大的cdte-cmos传感器平台研发而成，xc-flite x系列适用于潜在宽泛的能量范围。
xc-flite x系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（tds）模式。
引进反符合技术的双能采集功能，是xc-flite fx系列产品的先进之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医 疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素 点上，以获取更高的能量分辨率。
集成
xc-flite fx系列，通过gige接口将xc-flite fx系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有xc-flite fx的功能；可用在windows xp、vista、windows7和windows8系统平台
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*工业检测（ndt）
特点&优势
*三种尺寸可选
*cdte-cmos传感器，高品质成像
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（tds）模式
*兼容windows操作系统，从xp到windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
基本参数物理参数 尺寸 （l×w×h） xc-flite fx1：23.1×13.1×6.0 cm
xc-flite fx2：38.6×13.1×6.5 cm
xc-flite fx3：54.0×13.1×6.5 cm温度控制 内部的珀尔帖效应温度控制环境温度 +10 - +40℃储藏温度 -10-+60℃ @ 10％ to 95％ 湿度射线窗 碳纤维， 厚500μm 射线屏蔽 根据应用传感器 传感器数量 fx1：1 fx2：2 fx3：3传感器类型 双能光子计数 cdte-cmos传感器厚度 0.75mm-2.0mm cdte有效面积 fx1：154.7×12.8mm (1536×128像素 )
fx2：309.4×12.8mm (3072×128像素 )
fx3：464.1×12.8mm（4608×128像素 ）像素 100μm像素 填充率 100％ 性能 帧率 最高1000 fps（也可选择时间延迟求和模式）动态范围 12 bits图像面元 1×1，2×2，4×4成像时间 100μs-5sdqe（0）
detective quantum efficiency 85％@rqa5 spectramtf
modulation transfer function ＞80％ @ 2lp/mm
＞45％ @ 5lp/mm管kv范围 15-250kvp内部测试图样 pseudo-random debug pattern外部触发输出 3.3v ttl输入 5v 滞后 0％拖影 ＜0.1％ x射线开启后1分钟，（12μgy）分辨率和dqe曲线 （反符合开cc on和闭cc off）
瑞典xcounter 双能探测器
产品描述：pdt25-de
紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数x射线探测器，用于数字x射线成像系统，基于新型强大的cdte-cmos传感器平台研发而成，pdt25-de是一个小视场探测器，适用于潜在宽泛的能量范围。
pdt25-de可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（tds）模式。
引进反符合技术的双能采集功能，是pdt25-de先进之处，在双能采集过程中，探测到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医 疗和工业新成像技术开启了大门。采用反符合技术，可以确保将每一个光子信号分布在正确的像素 点上，以获取更高的能量分辨率。
集成
通过高速率usb接口将pdt25-de连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有pdt25-de的功能；可用在windows xp、vista 、windows7和windows8系统平台上。
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*反向散射成像
*工业检测（ndt）
特点和优势
*cdte-cmos传感器，高品质成像
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（tds）模式
*兼容windows操作系统，从xp到windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
瑞典xcounter 双能探测器
产品描述x 系列
xc-flite x1、x2、x3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数x射线探测器，用于数字x射线成像系统，基于新型强大的cdte-cmos传感器平台研发而成，xc-flite x系列适用于潜在宽泛的能量范围。
xc-flite x系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（tds）模式，扫描速度最高90mm/s。
引进反符合技术的双能采集功能，是xc-flite x系列产品的先进之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医 疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素 点上，以获取更高的能量分辨率。
所有精心设计的运动部件需要在xc-flite x系列的内部自动控制，整个扫描过程是透明可见的。
集成
xc-flite x系列，通过gige接口将xc-flite x系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有xc-flite x的功能；可用在windows xp、vista、 windows7和windows8系统平台
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*工业检测（ndt）
特点&优势
*三种尺寸可选
*cdte-cmos传感器，高品质成像
*自扫描设计，透明可见
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（tds）模式
*扫描速度最高90mm/s
*兼容windows操作系统，从xp到windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
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